उच्च आवृत्ति चक्रीय लोडिंग के अधीन वेव स्प्रिंग्स में थकान विफलता के प्राथमिक कारणों पर चर्चा करें।

वेव स्प्रिंग्स में थकान की विफलता आमतौर पर वेव पीक के आंतरिक या बाहरी व्यास पर शुरू होती है जहां तन्य तनाव अधिकतम होता है। गुडमैन मानदंड का उपयोग करते हुए, सुरक्षा कारक $S_f$ का अनुमान $\frac{\sigma_a}{S_e} + \frac{\sigma_m}{S_u} = \frac{1}{S_f}$ द्वारा लगाया जा सकता है, जहां $\sigma_a$ प्रत्यावर्ती तनाव है और $\sigma_m$ औसत तनाव है। सामान्य विफलता ट्रिगर्स में कार्बन स्टील (एसएई 1070) में हाइड्रोजन का भंगुर होना शामिल है, अगर प्लेटिंग के बाद इसे ठीक से नहीं पकाया गया है, और संक्षारक वातावरण में सतह पर गड्ढा हो जाता है जो एक तनाव सांद्रक के रूप में कार्य करता है। जीवन का विस्तार करने के लिए, सतह को शॉट पीनिंग से संपीड़ित अवशिष्ट तनाव उत्पन्न हो सकता है, जो प्रभावी रूप से औसत तनाव को नीचे की ओर स्थानांतरित कर सकता है।